အဆို့ရှင်လမ်းကြောင်းရှိ မီဒီယာကို အနှောင့်အယှက်ပေးခြင်း၊ ချိတ်ဆက်ခြင်း၊ ထိန်းညှိခြင်းနှင့် ဖြန့်ဝေခြင်း၊ ခွဲထုတ်ခြင်းနှင့် ရောနှောခြင်းကဲ့သို့သော တံဆိပ်ခတ်သည့် အစိတ်အပိုင်း၏ လုပ်ဆောင်ချက်ကြောင့်၊ တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်သည် မီဒီယာများ၏ ချေးခြင်း၊ တိုက်စားခြင်းနှင့် ဟောင်းနွမ်းခြင်းတို့ကို မကြာခဏ ခံရလေ့ရှိပြီး ပျက်စီးမှုဒဏ်ကို အလွန်ခံရလွယ်သည်။
အဓိကစကားလုံးများ：တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်; သံချေး; တိုက်စားမှု; ဟောင်းနွမ်းမှု
တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်ပျက်စီးရခြင်း၏ အကြောင်းရင်းနှစ်ခုရှိသည်- လူ့ပျက်စီးမှုနှင့် သဘာဝပျက်စီးမှု။ လူ့ပျက်စီးမှုသည် ဒီဇိုင်းညံ့ဖျင်းခြင်း၊ ထုတ်လုပ်မှု၊ ပစ္စည်းရွေးချယ်မှု၊ မသင့်လျော်သောတပ်ဆင်မှု၊ အသုံးပြုမှုညံ့ဖျင်းခြင်းနှင့် ပြုပြင်ထိန်းသိမ်းမှုကဲ့သို့သော အချက်များကြောင့် ဖြစ်ပွားသည်။ သဘာဝပျက်စီးမှုသည် အဆို့ရှင်၏ ပုံမှန်အလုပ်လုပ်ပုံများ ဟောင်းနွမ်းပျက်စီးခြင်းဖြစ်ပြီး မီဒီယာကြောင့် တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင် မလွှဲမရှောင်သာ ချေးခြင်းနှင့် တိုက်စားခြင်းကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာသည်။
တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင် ပျက်စီးရခြင်း၏ အကြောင်းရင်းများကို အောက်ပါအတိုင်း အကျဉ်းချုပ်နိုင်ပါသည်။
တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ အရည်အသွေးညံ့ဖျင်းခြင်း- ၎င်းသည် အဓိကအားဖြင့် တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ အက်ကွဲကြောင်းများ၊ အပေါက်များနှင့် ပါဝင်မှုများကဲ့သို့သော ချို့ယွင်းချက်များတွင် ထင်ရှားသည်။ ၎င်းသည် ဂဟေဆက်ခြင်းနှင့် အပူကုသမှုစံနှုန်းများကို မသင့်လျော်စွာ ရွေးချယ်ခြင်းအပြင် ဂဟေဆက်ခြင်းနှင့် အပူကုသမှုအတွင်း လည်ပတ်မှု ညံ့ဖျင်းခြင်းကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာသည်။ ပစ္စည်းရွေးချယ်မှု မမှန်ကန်ခြင်း သို့မဟုတ် အပူကုသမှု မမှန်ကန်ခြင်းကြောင့် တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်၏ မာကျောမှု အလွန်မြင့်မားခြင်း သို့မဟုတ် အလွန်နိမ့်ခြင်း ပါဝင်သည်။ တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်၏ မညီမညာ မာကျောမှုနှင့် ချေးခံနိုင်ရည် ညံ့ဖျင်းခြင်းတို့သည် အဓိကအားဖြင့် ဂဟေဆက်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်အတွင်း အောက်ခံသတ္တုကို မျက်နှာပြင်ပေါ်သို့ မှုတ်ထုတ်ခြင်းကြောင့်ဖြစ်ပြီး ၎င်းသည် တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်၏ အလွိုင်းဖွဲ့စည်းမှုကို ပျော့ပျောင်းစေသည်။ ဟုတ်ပါတယ်၊ ဒီဇိုင်းပြဿနာတွေလည်း ဒီကိစ္စနဲ့ ပတ်သက်ပြီး ရှိနေပါတယ်။
မသင့်လျော်သော ရွေးချယ်မှုနှင့် လုပ်ဆောင်ချက်ကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာသော ပျက်စီးမှု- ၎င်းကို အဓိကအားဖြင့် ရွေးချယ်ရန် ပျက်ကွက်ခြင်းတွင် ထင်ရှားသည်အဆို့ရှင်လုပ်ငန်းအခြေအနေပေါ်မူတည်၍ shut-off valve ကို throttling valve အဖြစ်အသုံးပြုခြင်းဖြင့် ပိတ်နေစဉ်အတွင်း ဖိအားလွန်ကဲခြင်း၊ လျင်မြန်စွာပိတ်ခြင်း သို့မဟုတ် မပိတ်ဘဲပိတ်ခြင်းတို့ကို ဖြစ်ပေါ်စေပြီး sealing မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် တိုက်စားခြင်းနှင့် ယိုယွင်းပျက်စီးခြင်းတို့ကို ဖြစ်စေသည်။ မှားယွင်းစွာတပ်ဆင်ခြင်းနှင့် ပြုပြင်ထိန်းသိမ်းမှုညံ့ဖျင်းခြင်းသည် sealing မျက်နှာပြင်၏ မူမမှန်သောလည်ပတ်မှုကို ဖြစ်ပေါ်စေပြီးအဆို့ရှင်ရောဂါဝေဒနာဖြင့် လည်ပတ်ရန်နှင့် တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်ကို စောစီးစွာ ပျက်စီးစေနိုင်သည်။
ဓာတုဗေဒဆိုင်ရာ သံချေးတက်ခြင်း- တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်ကို ဝန်းရံထားသော အလယ်အလတ်သည် လျှပ်စီးကြောင်းမထုတ်လုပ်ဘဲ တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်နှင့် ဓာတုဗေဒနည်းဖြင့် ဓာတ်ပြုပြီး တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်ကို သံချေးတက်စေသည်။ လျှပ်စစ်ဓာတုဗေဒဆိုင်ရာ သံချေးတက်ခြင်း၊ တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်များအကြား ထိတွေ့မှု၊ တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်နှင့် ပိတ်ထားသောကိုယ်ထည်အကြား ထိတွေ့မှုနှင့်အဆို့ရှင်ခန္ဓာကိုယ်အပြင် အလတ်စား၏ ပါဝင်မှုနှင့် အောက်ဆီဂျင်ပါဝင်မှု ကွာခြားချက်များသည် အလားအလာ ကွာခြားချက်များကို ဖြစ်ပေါ်စေပြီး လျှပ်စစ်ဓာတုဗေဒဆိုင်ရာ ချေးခြင်းကို ဖြစ်ပေါ်စေပြီး အန်နုတ်ဘက်ရှိ တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်ကို သံချေးတက်စေသည်။
အလယ်အလတ်စီးဆင်းမှုတိုက်စားခြင်း- ၎င်းသည် အလယ်အလတ်စီးဆင်းသည့်အခါ တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်၏ ပွန်းပဲ့ခြင်း၊ တိုက်စားခြင်းနှင့် အရည်ယိုစိမ့်ခြင်းတို့၏ ရလဒ်ဖြစ်သည်။ အတိုင်းအတာတစ်ခုအထိ၊ အလယ်အလတ်တွင် ပေါလောမျောနေသော အမှုန်အမွှားများသည် တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်နှင့် တိုက်မိပြီး ဒေသတွင်းပျက်စီးမှုကို ဖြစ်စေသည်။ မြန်နှုန်းမြင့်စီးဆင်းမှုအလယ်အလတ်သည် တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်ကို တိုက်ရိုက်တိုက်စားပြီး ဒေသတွင်းပျက်စီးမှုကို ဖြစ်စေသည်။ အလယ်အလတ်ရောနှောပြီး တစ်စိတ်တစ်ပိုင်းအငွေ့ပျံသွားသောအခါ၊ ပူဖောင်းများပေါက်ကွဲပြီး တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်ကို ထိခိုက်စေပြီး ဒေသတွင်းပျက်စီးမှုကို ဖြစ်စေသည်။ အလယ်အလတ်၏ တိုက်စားခြင်းနှင့် ဓာတုဗေဒချေးခြင်းပေါင်းစပ်မှုသည် တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်ကို ပြင်းထန်စွာတိုက်စားသည်။
စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ပျက်စီးမှု- အဖွင့်အပိတ် လုပ်ငန်းစဉ်အတွင်း အလုံပိတ်မျက်နှာပြင်သည် ခြစ်ရာများ၊ ပွတ်တိုက်မိခြင်းနှင့် ညှစ်မိခြင်းများ ဖြစ်ပေါ်လိမ့်မည်။ အလုံပိတ်မျက်နှာပြင်နှစ်ခုကြားရှိ အက်တမ်များသည် မြင့်မားသော အပူချိန်နှင့် ဖိအားအောက်တွင် တစ်ခုနှင့်တစ်ခု စိမ့်ဝင်ပြီး ကပ်ငြိမှုဖြစ်စဉ်ကို ဖြစ်ပေါ်စေပါသည်။ အလုံပိတ်မျက်နှာပြင်နှစ်ခု အပြန်အလှန် ရွေ့လျားသောအခါ၊ ကပ်ငြိမှုအမှတ်သည် အလွယ်တကူ ကွဲအက်သွားပါသည်။ အလုံပိတ်မျက်နှာပြင်၏ ကြမ်းတမ်းမှု မြင့်မားလေ၊ ဤဖြစ်စဉ် ဖြစ်ပွားနိုင်ခြေ ပိုများလေဖြစ်သည်။ အဆို့ရှင်ပိတ်သောအခါ၊ အဆို့ရှင်အပြားသည် အလုံပိတ်မျက်နှာပြင်ကို ပွတ်တိုက်မိပြီး ညှစ်မိမည်ဖြစ်ပြီး အလုံပိတ်မျက်နှာပြင်တွင် ဒေသတွင်း ဟောင်းနွမ်းခြင်း သို့မဟုတ် ချိုင့်ခွက်များ ဖြစ်ပေါ်စေသည်။
ပင်ပန်းနွမ်းနယ်မှုပျက်စီးခြင်း- ရေရှည်အသုံးပြုမှုအတွင်း တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်သည် အလှည့်ကျဝန်များကို ခံရပြီး ပင်ပန်းနွမ်းနယ်စေပြီး အက်ကွဲကြောင်းများနှင့် အလွှာကွာကျခြင်းများ ဖြစ်ပေါ်စေသည်။ ရော်ဘာနှင့် ပလတ်စတစ်တို့သည် ရေရှည်အသုံးပြုမှုပြီးနောက် အိုမင်းလွယ်ပြီး စွမ်းဆောင်ရည်ကျဆင်းစေသည်။ အထက်ဖော်ပြပါ တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်ပျက်စီးမှု၏ အကြောင်းရင်းများကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းမှ အဆို့ရှင်တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်များ၏ အရည်အသွေးနှင့် ဝန်ဆောင်မှုသက်တမ်းကို မြှင့်တင်ရန်အတွက် သင့်လျော်သော တံဆိပ်ခတ်မျက်နှာပြင်ပစ္စည်းများ၊ ကျိုးကြောင်းဆီလျော်သော တံဆိပ်ခတ်ဖွဲ့စည်းပုံများနှင့် လုပ်ဆောင်သည့်နည်းလမ်းများကို ရွေးချယ်ရမည်ဖြစ်ကြောင်း တွေ့မြင်နိုင်သည်။
TWS အဆို့ရှင်ကို အဓိကအားဖြင့် ကိုင်တွယ်ဖြေရှင်းခြင်းရော်ဘာထိုင်ထားသော လိပ်ပြာအဆို့ရှင်, ဂိတ်အဆို့ရှင်, Y-စစ်ထုတ်ကိရိယာ, ဟန်ချက်ညီအဆို့ရှင်, ဝေ့ဖ် စစ်ဆေးရေး အဆို့ရှင်စသည်တို့
ပို့စ်တင်ချိန်: ၂၀၂၃ ခုနှစ်၊ မေလ ၁၃ ရက်
